KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头
Straight Line Four-point Probe
型号：KV-FPB-SPLJ1，KV-FPB-SPLB1，KV-FPB-SPLD2，KV-FPB-SPLD3，KV-FPB-SPLE2，KV-FPB-SPLG2
探针头类型：直线四探针
探针中心距S：2mm
探针材质：镀镍磷铜
探针头合力：4±1 N
探针间距修正系数Fsp：见探针头或产品包装上的标签
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头为珠海凯为自主设计研发的产品，探头的探针可更换，六种不同型号的探针可供选用，
满足不同测试场景的应用要求。
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头与低电阻测试仪或毫欧计联用，选择具有适合测试的探针的四探针探头，可用于各种
不同的半导体材料的电阻率、膜层方阻等的测试，也可用于相关产品生产过程的检验测试。
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头
Straight Line Four-point Probe
型号：KV-FPB-SPLJ1，KV-FPB-SPLB1，KV-FPB-SPLD2，KV-FPB-SPLD3，KV-FPB-SPLE2，KV-FPB-SPLG2
探针头类型：直线四探针
探针中心距S：2mm
探针材质：镀镍磷铜
探针头合力：4±1 N
探针间距修正系数Fsp：见探针头或产品包装上的标签
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头为珠海凯为自主设计研发的产品，探头的探针可更换，六种不同型号的探针可供选用，满足不同测试场景的应用要求。
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头与低电阻测试仪或毫欧计联用，选择具有适合测试的探针的四探针探头，可用于各种不同的半导体材料的电阻率、膜层方阻等的测试，也可用于相关产品生产过程的检验测试。
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头
Straight Line Four-point Probe
型号：KV-FPB-SPLJ1，KV-FPB-SPLB1，KV-FPB-SPLD2，KV-FPB-SPLD3，KV-FPB-SPLE2，KV-FPB-SPLG2
探针头类型：直线四探针
探针中心距S：2mm
探针材质：镀镍磷铜
探针头合力：4±1 N
探针间距修正系数Fsp：见探针头或产品包装上的标签
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头为珠海凯为自主设计研发的产品，探头的探针可更换，六种不同型号的探针可供选用，
满足不同测试场景的应用要求。
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头与低电阻测试仪或毫欧计联用，选择具有适合测试的探针的四探针探头，可用于各种
不同的半导体材料的电阻率、膜层方阻等的测试，也可用于相关产品生产过程的检验测试。
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头
Straight Line Four-point Probe
型号：KV-FPB-SPLJ1，KV-FPB-SPLB1，KV-FPB-SPLD2，KV-FPB-SPLD3，KV-FPB-SPLE2，KV-FPB-SPLG2
探针头类型：直线四探针
探针中心距S：2mm
探针材质：镀镍磷铜
探针头合力：4±1 N
探针间距修正系数Fsp：见探针头或产品包装上的标签
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头为珠海凯为自主设计研发的产品，探头的探针可更换，六种不同型号的探针可供选用，满足不同测试场景的应用要求。
KV-FPB-SPLX系列直线四探针探头与低电阻测试仪或毫欧计联用，选择具有适合测试的探针的四探针探头，可用于各种不同的半导体材料的电阻率、膜层方阻等的测试，也可用于相关产品生产过程的检验测试。
